砷化鎵晶圓的材料特性
砷化鎵(GaAs)是國(guó)際公認(rèn)的繼“硅”之后最成熟的化合物半導(dǎo)體材料,具有高頻率、高電子遷移率、高輸出功率、低噪音以及線性度良好等優(yōu)越特性,作為第二代半導(dǎo)體材料中價(jià)格昂貴的一種,被冠以“半導(dǎo)體貴族”之稱,是光電子和微電子工業(yè)最重要的支撐材料之一。
砷化鎵晶圓的脆性高,與硅材料晶圓相比,在切割過程中更容易產(chǎn)生芯片崩裂現(xiàn)象,使芯片的晶體內(nèi)部產(chǎn)生應(yīng)力損傷,導(dǎo)致產(chǎn)品失效和使用性能降低。
砷化鎵晶圓的應(yīng)用
用砷化鎵制成的半導(dǎo)體器件具有高頻、高溫、低溫性能好、噪聲小、抗輻射能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn),可用于生產(chǎn)二極管、場(chǎng)效應(yīng)晶體管(FET)和集成電路(IC)等,主要應(yīng)用于高端軍事電子、光纖通信系統(tǒng)、寬帶衛(wèi)星無線通信系統(tǒng)、測(cè)試儀器、汽車電子、激光、照明等領(lǐng)域。
目前,基于砷化鎵襯底的led發(fā)光芯片在市場(chǎng)上有大量需求。
選刀要點(diǎn)
切割砷化鎵晶圓,通常采用輪轂型電鍍劃片刀,選刀不當(dāng)極易造成晶片碎裂,導(dǎo)致成品率偏低。用極細(xì)粒度金剛石(4800#,5000#)規(guī)格的刀片,能有效減少晶片碎裂,但切割之前需要進(jìn)行修刀。
案例實(shí)錄
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測(cè)試目的
1、對(duì)比測(cè)試
2、驗(yàn)證切割品質(zhì)
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材料情況
切割產(chǎn)品 | 砷化鎵外延片 |
產(chǎn)品尺寸 | 4寸 |
產(chǎn)品厚度 | 100μm |
膠膜類型 | 藍(lán)膜 |
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修刀參數(shù)
修刀板型號(hào) | 5000# |
尺寸規(guī)格 | 75x75x1mm |
修刀速度 | 8/10/15 mm/s |
修刀刀數(shù) | 3種速度各5刀 |
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工藝參數(shù)
切割工藝 | 單刀切透 |
設(shè)備型號(hào) | DAD322 |
主軸轉(zhuǎn)速 | 38K rpm |
進(jìn)刀速度 | CH2:25mm/s CH1:35mm/s |
刀片高度 | CH2:0.08mm CH1:0.07mm |
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樣刀準(zhǔn)備
SSTYE 5000-R-90-AAA
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樣刀規(guī)格
刀片型號(hào) | 5000-R-90 AAA |
金剛石粒度 | 5000# |
結(jié)合劑硬度 | R(硬) |
集中度 | 90 |
切痕寬度 | 0.015-0.020 |
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測(cè)試結(jié)果
1、刀痕良好,<18μm,在控制范圍內(nèi)。
2、正面崩邊<3μm。
3、背面崩邊<15μm,在控制范圍內(nèi)。
切割效果